Veranstaltungsreihe von RECENDT Research Center for Non Destructive Testing GmbH – Einblicke in die aktuellsten Lösungen aus den Gebieten Non-Destructive Testing (NDT) & Process Analytical Technologies (PAT)
- Thema: THz-CT (computed tomography) and fast THz-imaging for industrial non-destructive testing
- Vortragende: Dr. Sandrine van Frank, Research Scientist, RECENDT
- Sprache: Englisch
Anmeldung über RECENDT-Website
Weitere Informationen und Talks zu „NDT4Industry“