Veranstaltungsreihe von RECENDT Research Center for Non Destructive Testing GmbH – Einblicke in die aktuellsten Lösungen aus den Gebieten Non-Destructive Testing (NDT) & Process Analytical Technologies (PAT)
- Thema: QCL-basierte spektroskopische Ellipsometrie für die Echtzeitmessung von Materialinhomogenitäten
- Vortragender: Dipl.-Ing. Alexander Ebner, Research Scientist, RECENDT
- Sprache: Englisch (oder Deutsch, bei deutschsprachigem Publikum)
Anmeldung über RECENDT-Website
Weitere Informationen und Talks zu „NDT4Industry“