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Veranstaltungsreihe von RECENDT Research Center for Non Destructive Testing GmbH – Einblicke in die aktuellsten Lösungen aus den Gebieten Non-Destructive Testing (NDT) & Process Analytical Technologies (PAT)

• Thema: THz-CT (computed tomography) and fast THz-imaging for industrial non-destructive testing
• Vortragende: Dr. Sandrine van Frank, Research Scientist, RECENDT
• Sprache: Englisch

Anmeldung über RECENDT-Website

Weitere Informationen und Talks zu „NDT4Industry“

Vorstellung der Silicon Austria Labs

Details auf der Event-Website

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