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NDT4Industry: Modal Analysis from Random and Compressed Samples
Veranstaltungsreihe von RECENDT Research Center for Non Destructive Testing GmbH
- Thema: Modal Analysis from Random and Compressed Samples
- Vortragender: Prof. Michael Wakin, Ph.D., Full professor at the Colorado School of Mines / Dept. of Electrical Engineering
- Sprache: Englisch
Anmeldung über RECENDT-Website
Weitere Informationen und Talks zu “NDT4Industry”
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